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Espectroscopia de corriente oscura

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La espectroscopia de corriente oscura es una técnica que se utiliza para determinar contaminantes en el silicio . [ 1 ] [ 2 ] [ 3 ]

Referencias

  1. ↑ McColgin, WC (1992), Cuantización de la corriente oscura en sensores de imagen CCD , Reunión de Dispositivos Electrónicos, 1992, San Francisco, California , EE. UU.: Sociedad de Dispositivos Electrónicos del IEEE
  2. ↑ Mccolgin, William C.; Lavine, James P.; Stancampiano, Charles V. (1996-12-01). "Espectroscopia de corriente oscura de metales en silicio" . MRS Online Proceedings Library . 442 (1): 187– 192. doi : 10.1557/PROC-442-187 . ISSN 1946-4274 . 
  3. ↑ Tivarus, C.; McColgin, WC "Espectroscopia de corriente oscura de sensores de imagen CCD irradiados" . IEEE Transactions on Nuclear Science . 55 (3): 1719– 1724. doi : 10.1109/TNS.2008.919263 . ISSN 1558-1578 .