Hispanopedia WikiLa deflectometría de moiré produce un resultado similar a una técnica de interferometría , [ 1 ] [ 2 ] en la que el objeto a analizar (ya sea un objeto de fase o una superficie especular) se coloca en el recorrido de un haz colimado seguido de un par de rejillas de transmisión separadas entre sí. El patrón de franjas resultante , es decir, el deflectograma de moiré, es un mapa de las deflexiones de los rayos que corresponden a las propiedades ópticas del objeto inspeccionado.
La deflectometría de moiré puede ser una herramienta poderosa para ensayos ópticos no destructivos. Una ventaja importante de la técnica es su menor sensibilidad a las vibraciones mecánicas, por lo que se utiliza ampliamente en la industria oftálmica para el análisis laminar. Una aplicación similar en túneles de viento para mediciones cuantitativas es la técnica moiré schlieren, una variante de la fotografía schlieren . [ 3 ]
En 2012 se publicó la primera aplicación del método para la medición de la densidad electrónica en plasma . [ 4 ] El método destaca por su resolución espacial y temporal comparable a un enfoque similar de deflectometría láser schlieren .
Referencias
- ↑ O. Kafri Cartas de óptica 1980; 5.555
- ↑ Oberthaler, MK; et al. (octubre de 1996). "Detección inercial con haces atómicos clásicos". Physical Review A. 54 ( 4): 3165– 3176. Bibcode : 1996PhRvA..54.3165O . doi : 10.1103/physreva.54.3165 . PMID 9913837 .
- ↑ O. Kafri & I Glatt "La física de la metrología de moiré" J. Wiley & Sons Inc. (1990)
- ↑ Valenzuela, JC; Wyndham, ES; Chuaqui, H.; Cortes, DS; Favre, M.; Bhuyan, H. (2012). "Implementación de la deflectometría moire-schlieren en una descarga de plasma capilar rápida a pequeña escala". Journal of Applied Physics . 111 (10): 103301. Bibcode : 2012JAP...111j3301V . doi : 10.1063/1.4719982 . hdl : 10533/132785 .
- Interferometría
- Obstáculos ópticos
