Peter Nellist

Peter David Nellist , es un físico y científico de materiales británico , actualmente profesor en el Departamento de Materiales de la Universidad de Oxford . Es conocido por ser pionero en nuevas técnicas de microscopía electrónica de alta resolución . ^[1]

Nellist obtuvo su licenciatura (1991), maestría (1995) y doctorado (1996) en el St John's College de Cambridge y estudió en el Laboratorio Cavendish con John Rodenburg antes de realizar una investigación posdoctoral en el Laboratorio Nacional Oak Ridge (ORNL) en Tennessee con el ex investigador de Cavendish Stephen Pennycook. ^[2] Dieciocho meses después, Nellist regresó a Cambridge con una beca de investigación universitaria de la Royal Society, que transfirió a la Universidad de Birmingham . Dejó la academia durante cuatro años para trabajar para otro ex pionero de la microscopía de Cambridge, Ondrej Krivanek , en Nion, su empresa recién formada en Seattle . Luego, Nellist regresó al Trinity College de Dublín y finalmente a la Universidad de Oxford, donde se convirtió en director adjunto del Departamento de Materiales en 2019. ^{[3] [4] [5]}

La investigación de Nellist se centra en la microscopía electrónica de transmisión por barrido y su uso en la ciencia de los materiales. En particular, se destaca por su trabajo en pticografía electrónica , interpretación cuantitativa de imágenes y el desarrollo de lentes correctoras para microscopios electrónicos, ^{[1] [6]} que él describe como "como anteojos para un microscopio". ^[5]

A mediados de la década de 1990, trabajando con John Rodenburg en el Laboratorio Cavendish en Cambridge, ayudó a idear nuevas formas de mejorar la resolución de los microscopios electrónicos de barrido y de los microscopios electrónicos de transmisión . ^{[7] [8]}

En 1998, trabajando con Stephen Pennycook de ORNL, registró "las imágenes de microscopio de mayor resolución jamás obtenidas de estructuras cristalinas". ^{[9] [10]} Seis años después, Nellist, Pennycook y sus colegas de ORNL produjeron las primeras imágenes de átomos en un cristal en escalas sub-Angstrom utilizando una nueva técnica para corregir las aberraciones ópticas en un microscopio electrónico de transmisión por barrido. ^{[11] [12]}

Nellist ha ganado numerosos premios, entre ellos la Medalla Burton de 2007 de la Sociedad de Microscopía de América por "una contribución excepcional a la microscopía", el Premio Ernst Ruska de 2013 de la Sociedad Alemana de Microscopía Electrónica por el desarrollo de la microscopía electrónica confocal, el Premio Birks de 2013 de la Sociedad de Análisis de Microhaz y los premios de la Sociedad Europea de Microscopía de 2016 y 2020 al mejor artículo publicado en ciencia de los materiales. Fue elegido miembro de la Royal Society en 2020. Es vicepresidente de la Royal Microscopical Society (de la que también fue nombrado miembro honorario en 2020) ^[13] y miembro de la junta directiva de la Sociedad Europea de Microscopía. ^{[3] [5]}

• Pennycook, Stephen; Nellist, Peter, eds. (2011). Microscopía electrónica de transmisión por barrido: obtención de imágenes y análisis. Nueva York: Springer. ISBN 9781441972002.

• Nellist, P; Chisholm, F; Dellby, N; Krivanek, O; Murfitt, M; et al. (17 de septiembre de 2004). "Imágenes directas subangstrom de una red cristalina". Science . 305 (5691): 1741. doi :10.1126/science.1100965. PMID  15375260. S2CID  8064440 . Consultado el 17 de marzo de 2022 .
• Varela, M; Findlay, S; Lupini, A; Christen, H; Borisevich, A; et al. (marzo de 2004). "Obtención de imágenes espectroscópicas de átomos individuales dentro de un sólido masivo". Phys. Rev. Lett . 92 (9): 095502. arXiv : cond-mat/0401156 . Bibcode :2004PhRvL..92i5502V. doi :10.1103/PhysRevLett.92.095502. PMID  15089484. S2CID  4792946 . Consultado el 16 de marzo de 2022 .
• Dellby, Niklas; Krivanek, Ondrej; Nellist, Peter; Batson, Philip; Lupini, Andrew (2001). "Progreso en la microscopía electrónica de transmisión de barrido con corrección de aberración". Journal of Electron Microscopy . 50 (3): 177–185. doi : 10.1093/jmicro/50.3.177 . PMID  11469406 . Consultado el 16 de marzo de 2022 .
• Nellist, P; McCallum, B; Rodenburg, J (abril de 1995). "Resolución más allá del 'límite de información' en microscopía electrónica de transmisión". Nature . 374 (6523): 630–632. Bibcode :1995Natur.374..630N. doi :10.1038/374630a0. S2CID  4330017.

• Sitio web oficial
• Ver para creer: cómo la observación de átomos en el microscopio electrónico ayuda a desarrollar los materiales del mañana: una charla de divulgación escolar a cargo de Peter Nellist que explica su trabajo en microscopía electrónica.