Espectroscopia de diferencia de reflectancia

La espectroscopia de diferencia de reflectancia (RDS) es una técnica espectroscópica que mide la diferencia de reflectancia de dos haces de luz que inciden perpendicularmente sobre una superficie con polarizaciones lineales diferentes . ^{[ 1 ]} También se conoce como espectroscopia de anisotropía de reflectancia (RAS). ^{[ 2 ]}

Se calcula de la siguiente manera:

${\displaystyle RDS=2{\frac {r_{\alpha }-r_{\beta }}{r_{\alpha }+r_{\beta }}},r\in \mathbb {C} }$

${\displaystyle r_{\alpha }}$y${\displaystyle r_{\beta }}$son la reflectancia en dos polarizaciones diferentes.

El método se introdujo en 1985 para el estudio de las propiedades ópticas de los semiconductores cúbicos silicio y germanio . ^{[ 3 ]} Debido a su alta sensibilidad superficial e independencia del ultra alto vacío , su uso se ha extendido al monitoreo in situ del crecimiento epitaxial ^{[ 4 ]} o la interacción de superficies con adsorbentes. ^{[ 5 ]} Para asignar características específicas en la señal a su origen en la morfología y la estructura electrónica, se requiere modelado teórico mediante la teoría del funcional de la densidad .