
El análisis riguroso de ondas acopladas ( RCWA ), también conocido como método modal de Fourier ( FMM ), [ 1 ] es un método semianalítico en electromagnetismo computacional que se aplica típicamente para resolver la dispersión de estructuras dieléctricas periódicas. Es un método del espacio de Fourier, por lo que los dispositivos y los campos se representan como una suma de armónicos espaciales.
Descripción
El método se basa en el teorema de Floquet , que establece que las soluciones de ecuaciones diferenciales periódicas pueden expandirse mediante funciones de Floquet (o, en ocasiones, denominadas ondas de Bloch , especialmente en la física del estado sólido ). Un dispositivo se divide en capas uniformes en la dirección z. Se requiere una aproximación escalonada para dispositivos curvos con propiedades como la permitividad dieléctrica que varía a lo largo de la dirección z.
Los modos electromagnéticos en cada capa se calculan y se propagan analíticamente a través de ellas. El problema general se resuelve igualando las condiciones de contorno en cada una de las interfaces entre las capas mediante una técnica como las matrices de dispersión. Para calcular los modos electromagnéticos, que vienen determinados por el vector de onda de la onda plana incidente, en un medio dieléctrico periódico, las ecuaciones de Maxwell (en forma diferencial parcial) y las condiciones de contorno se expanden mediante las funciones de Floquet en el espacio de Fourier. Esta técnica transforma la ecuación diferencial parcial en una ecuación diferencial ordinaria matricial en función de la altura sobre el medio periódico. La representación finita de estas funciones de Floquet en el espacio de Fourier hace que las matrices sean finitas, lo que permite que el método pueda resolverse mediante ordenadores.
factorización de Fourier
Al ser un método en el espacio de Fourier, presenta varios inconvenientes. El fenómeno de Gibbs es particularmente grave para dispositivos con alto contraste dieléctrico. La truncación del número de armónicos espaciales también puede ralentizar la convergencia, por lo que se deben utilizar técnicas como la factorización rápida de Fourier (FFF). La FFF [ 2 ] es sencilla de implementar para rejillas 1D, pero la comunidad aún trabaja en un enfoque directo para dispositivos de rejilla cruzada. La dificultad de la FFF en dispositivos de rejilla cruzada radica en que el campo debe descomponerse en componentes paralelas y perpendiculares en todas las interfaces. Este cálculo no es sencillo para dispositivos de forma arbitraria.
Finalmente, dado que el método RCWA generalmente requiere la convolución de funciones discontinuas representadas en el espacio de Fourier, se debe prestar especial atención a cómo se tratan estas discontinuidades en la formulación de las ecuaciones de Maxwell en el espacio de Fourier. [ 3 ] Lifeng Li realizó una contribución clave al comprender las propiedades de la convolución de las transformadas de Fourier de dos funciones con discontinuidades coincidentes que, sin embargo, forman una función continua. Esto condujo a una reformulación de RCWA con una mejora significativa en la convergencia al utilizar series de Fourier truncadas. [ 4 ]
Condiciones de contorno
Las condiciones de contorno deben aplicarse en las interfaces entre todas las capas. Cuando se utilizan muchas capas, esto se vuelve demasiado grande para resolverlo simultáneamente. En cambio, RCWA toma prestado de la teoría de redes y calcula matrices de dispersión. Esto permite que las condiciones de contorno se resuelvan una capa a la vez. Sin embargo, casi sin excepción, las matrices de dispersión implementadas para RCWA son ineficientes y no siguen las convenciones establecidas en cuanto a cómo se definen S11, S12, S21 y S22. [ 5 ] Existen otros métodos, como las matrices de transmitancia mejoradas (ETM), las matrices R y las matrices H. ETM, por ejemplo, es considerablemente más rápido pero menos eficiente en memoria.
RCWA se puede aplicar a estructuras aperiódicas con el uso apropiado de capas perfectamente adaptadas . [ 1 ]
Aplicaciones
El análisis RCWA aplicado a la reflectometría de banda ancha polarizada se utiliza en la industria de dispositivos semiconductores de potencia como técnica de medición para obtener información detallada del perfil de estructuras de trincheras periódicas. Esta técnica ha proporcionado resultados de profundidad de trinchera y dimensión crítica (CD) comparables a los de la microscopía electrónica de barrido de sección transversal , con la ventaja añadida de ser de alto rendimiento y no destructiva.
Para extraer las dimensiones críticas de una estructura de trinchera (profundidad, CD y ángulo de la pared lateral), los datos de reflectancia polarizada medidos deben tener un rango de longitud de onda suficientemente amplio y analizarse con un modelo físicamente válido (por ejemplo: RCWA en combinación con las relaciones de dispersión de Forouhi-Bloomer para n y k ). Los estudios han demostrado que el rango de longitud de onda limitado de un reflectómetro estándar (375-750 nm) no proporciona la sensibilidad necesaria para medir con precisión estructuras de trinchera con valores de CD pequeños (menos de 200 nm). Sin embargo, al utilizar un reflectómetro con un rango de longitud de onda extendido de 190 a 1000 nm, es posible medir con precisión estas estructuras más pequeñas. [ 6 ]
RCWA también se utiliza para mejorar las estructuras difractivas de las células solares de alta eficiencia . Para la simulación de la célula solar o módulo solar completo , RCWA se puede combinar eficazmente con el formalismo OPTOS .
Véase también
Referencias
- 1 2 Hugonin, Jean Paul; Lalanne, Philippe (2005). "Capas perfectamente adaptadas como transformaciones de coordenadas no lineales: una formalización generalizada" ( PDF) . Journal of the Optical Society of America A. 22 ( 9): 1844– 1849. Bibcode : 2005JOSAA..22.1844H . doi : 10.1364/JOSAA.22.001844 . PMID 16211811. S2CID 8001894 .
- ↑ Popov, Evgeny (2001). "Ecuaciones de Maxwell en el espacio de Fourier: formulación de convergencia rápida para la difracción por medios anisotrópicos periódicos de forma arbitraria". Journal of the Optical Society of America A. 18 ( 11): 2886–94 . Bibcode : 2001JOSAA..18.2886P . doi : 10.1364/JOSAA.18.002886 . PMID 11688878 .
- ↑ Hench, John; Strakoš, Zdeněk (2008). "El método RCWA: un estudio de caso con preguntas abiertas y perspectivas de los cálculos algebraicos" (PDF) . Electronic Transactions on Numerical Analysis . 39 : 331–357 .
- ↑ Li, Lifeng (1996). "Uso de series de Fourier en el análisis de estructuras periódicas discontinuas". J. Opt. Soc. Am. A . 31 (9): 1870– 187. Bibcode : 1996JOSAA..13.1870L . doi : 10.1364/JOSAA.13.001870 .
- ↑ Rumpf, Raymond C. (2011). "Formulación mejorada de matrices de dispersión para métodos semianalíticos que es consistente con la convención" . Progress in Electromagnetics Research B. 35 : 241–261 . doi : 10.2528 /PIERB11083107 . ISSN 1937-6472 .
- ↑ Heider, F.; Roberts, J.; Huang, J.; Lam, J.; Forouhi, AR (julio de 2013). "Efectos del rango espectral medido en la precisión y repetibilidad del análisis OCD". Solid State Technology . 56 (5): 21.
- Moharam, MG; Gaylord, TK (1981). "Análisis riguroso de ondas acopladas de la difracción de rejillas planas". Journal of the Optical Society of America . 71 (7): 811. Bibcode : 1981JOSA...71..811M . doi : 10.1364/JOSA.71.000811 .
- Consulte el capítulo 6 de Diseño y optimización de elementos nanoópticos mediante el acoplamiento de la fabricación al comportamiento óptico.
Enlaces externos
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- EMpy
- FMMAX
- MRCWA
- S4
- Unigit (RCWA, Rayleigh–Fourier y método C)
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