Pulso de línea de transmisión

En ingeniería eléctrica , el pulso de línea de transmisión ( TLP ) es una forma de estudiar las tecnologías de circuitos integrados y el comportamiento de los circuitos en el dominio de la corriente y el tiempo de los eventos de descarga electrostática (ESD). El concepto se describió poco después de la Segunda Guerra Mundial en las páginas 175-189 de Pulse Generators, vol. 5 de la serie MIT Radiation Lab. Además, D. Bradley, J. Higgins, M. Key y S. Majumdar realizaron un espacio de chispa activado por láser basado en TLP para pulsos de kilovoltios de tiempo variable con precisión en 1969. Para la investigación de los efectos de ESD y sobreesfuerzo eléctrico (EOS), T. Maloney y N. Khurana introdujeron por primera vez un sistema de medición que utiliza un generador TLP en 1985. Desde entonces, la técnica se ha vuelto indispensable para el desarrollo de protección ESD de circuitos integrados.

La técnica TLP se basa en cargar un cable largo y flotante a un voltaje predeterminado y descargarlo en un dispositivo bajo prueba (DUT). La descarga del cable emula un evento de descarga electrostática, pero empleando reflectometría de dominio temporal (TDR), el cambio en la impedancia del DUT se puede monitorear en función del tiempo.

El primer sistema TLP comercial fue desarrollado por Barth Electronics en la década de 1990. Desde entonces, se han desarrollado otros sistemas comerciales (por ejemplo, por Thermo Fisher Scientific, Grundtech, ESDEMC Technology, High Power Pulse Instruments, Hanwa, TLPsol).

Un subconjunto de TLP, VF-TLP (pulsación de línea de transmisión muy rápida), ha ganado popularidad últimamente con su resolución y ancho de banda mejorados para el análisis de eventos de ESD efímeros, como eventos CDM (modelo de dispositivo cargado). Desarrollado por el sector académico (Universidad de Illinois) y comercializado por Barth Electronics, VF-TLP se ha convertido en una importante herramienta de análisis de ESD para analizar circuitos semiconductores de alta velocidad modernos.

Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas ANSI/ESD STM5.5.1-2016: pulso de línea de transmisión (TLP), nivel de componente

ANSI/ESD SP5.5.2-2007 Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas: pulso de línea de transmisión muy rápido (VF-TLP), nivel de componente

IEC 62615:2010 Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas - Pulso de línea de transmisión (TLP) - Nivel de componente

• Modelo del cuerpo humano
• GN Glasoe y JV Lebacqz. Pulse Generators, volumen 5 de la serie MIT Radiation Laboratory. McGraw-Hill, Nueva York, 1948, págs. 175-189.
• D. Bradley, J. Higgins, M. Key y S. Majumdar, "Un simple dispositivo de disparo por láser para pulsos de kilovoltios con tiempos variables y precisos", Opto-Electronics Letters, vol. 1, págs. 62-64, 1969.

• Semiconductor, Robert Ashton Ph D. ON (15 de noviembre de 2007). "El pulso de línea de transmisión (TLP) es una herramienta de análisis eficaz para ESD". Electronic Component News . Consultado el 26 de junio de 2019 .
• Introducción de la prueba de pulso de línea de transmisión (TLP) para análisis de ESD: nivel de dispositivo
• Sistema de evaluación automatizada de eventos de descarga de cables (CDE) basado en el método TLP
• Caracterización de fallas ESD en sensores de panel táctil con TLP de curva IV
• Comparación de pruebas de nivel de falla TVS entre pistola ESD, TLP y HMM
• Método avanzado de compensación de frecuencia para medición VF-TLP (hasta 10 GHz)
• Análisis de fallas ESD de diodos de módulos fotovoltaicos y métodos de prueba TLP
• "Análisis de fallas ESD de diodos de módulos fotovoltaicos y métodos de prueba TLP". Incompliancemag.com . 29 de febrero de 2016 . Consultado el 26 de junio de 2019 .
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• "Técnicas de pulsación de líneas de transmisión" (PDF) . Sites.google.com . Consultado el 26 de junio de 2019 .