Espectrometría de rayos X (revista)

X-Ray Spectrometry es una revista científica bimestral revisada por pares, fundada en 1972 y publicada por John Wiley & Sons . Abarca la teoría y la aplicación de la espectrometría de rayos X. Los editores jefes actualesson Johan Boman ( Universidad de Gotemburgo ) y Liqiang Luo ( Centro Nacional de Investigación de Geoanálisis ).

La revista está resumida e indexada en:

Según Journal Citation Reports , la revista tiene un factor de impacto de 1,488 en 2020, lo que la sitúa en el puesto 30 de 43 revistas en la categoría "Espectroscopia". ^{[ 1 ]}

Los artículos más citados de esta revista son:

1. Vekemans, B.; Janssens, K.; Vincze, L.; Adams, F.; Van Espen, P. (1994). "Análisis de espectros de rayos X mediante mínimos cuadrados iterativos (AXIL): Nuevos desarrollos". Espectrometría de rayos X. 23 ( 6): 278. doi : 10.1002/xrs.1300230609 .
2. Packwood, RH; Brown, JD (1981). "Una expresión gaussiana para describir las curvas φ(ρz) para el microanálisis cuantitativo con sonda electrónica". Espectrometría de rayos X. 10 (3): 138. doi : 10.1002/xrs.1300100311 .
3. Norrish, K.; Hutton, JT (1977). "Análisis de plantas mediante espectrometría de rayos X I: Elementos de bajo número atómico, del sodio al calcio". Espectrometría de rayos X. 6 : 6–11 . doi : 10.1002/xrs.1300060104 .

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