David Cockayne

David John Hugh Cockayne FRS ^{[ 5 ]} FInstP (19 de marzo de 1942 – 22 de diciembre de 2010) fue profesor de examen físico de materiales en el Departamento de Materiales de la Universidad de Oxford y miembro catedrático del Linacre College de 2000 a 2009. ^{[ 6 ] [ 7 ]} Fue presidente de la Federación Internacional de Sociedades de Microscopía de 2003 a 2007, y luego vicepresidente de 2007 a 2010. ^{[ 5 ]}

Cockayne fue un microscopista electrónico que desempeñó un papel importante en el desarrollo de la microscopía electrónica de transmisión de haz débil (TEM) y en la aplicación de la TEM de alta resolución al diamante, los fullerenos y los semiconductores . ^{[ 8 ] [ 9 ] [ 10 ]}

Cockayne nació en Balham , Londres, el segundo de tres hijos de John Henry Cockayne, policía y más tarde gerente de personal, y su esposa, Ivy, de soltera Hatton. ^{[ 11 ]} En 1950, cuando tenía 8 años, la familia zarpó de Tilbury en el Otranto , con destino a Melbourne ; ^{[ 12 ]} su nuevo hogar estaría en la zona de Geelong , Victoria. En 1952 se mudaron a una casa recién construida en Geelong, y Cockayne asistió a una nueva escuela, desde donde obtuvo una beca para Geelong Grammar School en 1953, donde sobresalió en química, física y matemáticas.

En 1961, Cockayne se matriculó en la Universidad de Melbourne para estudiar física; se graduó en 1964 con honores de primera clase. Posteriormente, realizó una investigación sobre difracción de electrones para obtener una maestría, obteniendo nuevamente la máxima calificación en 1966. ^{[ 13 ]} Luego, recibió una beca de la Commonwealth para cursar un doctorado en el Magdalen College de Oxford .

David se unió al Departamento de Metalurgia de Oxford en septiembre de 1966 para realizar investigaciones sobre imágenes de microscopía electrónica de defectos en redes cristalinas, bajo la supervisión del Dr. MJ Whelan . Obtuvo el doctorado en 1970. ^{[ 14 ]}

A los 32 años, Cockayne asumió el cargo de director de la Unidad de Microscopía Electrónica (EMU) de la Universidad de Sídney en junio de 1974. También ocupó el puesto de profesor asociado. Fue ascendido a catedrático en 1986 y, posteriormente, a catedrático de Física (Microscopía Electrónica y Microanálisis) en 1992. Estableció una importante base de investigación en Sídney; junto con David McKenzie, desarrolló una técnica de difracción de electrones de alta precisión dentro de un microscopio electrónico para estudiar la estructura de materiales amorfos. ^{[ 15 ]}

Cockrayne regresó a Oxford en 2000 para ocupar el puesto de Profesor de Examen Físico de Materiales en el Departamento de Materiales . También se convirtió en Profesor Investigador en Linacre College . En el departamento de materiales, “creó un excelente grupo de microscopía electrónica” y dio seguimiento a los estudios iniciados en Sídney sobre las propiedades de los nanocristales (puntos cuánticos) en aleaciones semiconductoras. ^{[ 15 ]}

Cuando Cockayne fue elegido miembro de la Royal Society (FRS) en 1999 ^{[ 5 ]} su certificado de elección indicaba que era:

Reconocido por sus contribuciones al desarrollo de la microscopía electrónica y sus aplicaciones a la ciencia de los materiales, desarrolló la teoría y, junto con Ray, los procedimientos experimentales para la técnica del "haz débil", que mejoró en un orden de magnitud, hasta 1,5 nm, la resolución con la que se podían estudiar geometrías complejas de defectos reticulares. Esta técnica ha propiciado importantes avances en la comprensión de la estructura y las propiedades de los defectos, y actualmente es una herramienta de uso habitual. Los trabajos de Cockayne en este campo son clásicos. Aplicó la técnica, entre otras cosas, para medir valores precisos de energías de fallas de apilamiento, demostró de forma inequívoca por primera vez que las dislocaciones en semiconductores se disocian, ya sean estacionarias o deslizantes, y dilucidó la estructura y las posiciones de las dislocaciones de desajuste en superredes de capas tensadas. Ha realizado importantes contribuciones a la interpretación de las franjas reticulares. Siguiendo el trabajo previo de Grigson, junto con McKenzie, desarrolló una potente técnica de difracción de electrones para determinar funciones de distribución radial a partir de pequeñas áreas de materiales amorfos, recolectando únicamente electrones dispersados ​​elásticamente, transformando el método en una herramienta de precisión que proporciona distancias entre vecinos más cercanos con una exactitud de 0,01 Å. Entre sus aplicaciones se incluyen la demostración de la existencia de la forma amorfa del carbono con coordinación tetraédrica y el perfeccionamiento de modelos para C60 y C70. El trabajo de Cockayne destaca por su profundo conocimiento físico y su capacidad para aplicarlo al desarrollo de técnicas potentes y de amplia aplicación. ^{[ 3 ]}